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當前位置:首頁  >  技術文章

  • 2023

    7-11

    日本昭日硬度計在材料測試中具有非常重要的地位,因為(wei) 硬度是衡量材料質量和使用性能的重要指標之一。日本昭日硬度計是一種用於(yu) 測量材料硬度的設備,它可以提供有關(guan) 材料硬度的詳細信息,從(cong) 而幫助研究人員和工程師了解材料的性能,做出更好的設計和製造決(jue) 策。首先,可以提供材料的硬度值。硬度值是衡量材料表麵抵抗局部變形的能力的重要指標。可以通過對材料表麵施加一定量的壓力,測量材料的回彈角度或所需的力量,從(cong) 而得出材料的硬度值。測得的硬度值可以幫助研究人員和工程師了解材料的力學性能,包括材料的強度、耐...

  • 2023

    6-12

    三豐(feng) 公製型遊標卡尺是一種常用的測量工具,根據其質量的不同,零點誤差不盡相同。但一些普遍規定,例如精度為(wei) 0.02mm的話,最大零點誤差不應超過0.02mm。如果發現遊標卡尺存在零點誤差,可以通過以下步驟來進行校準:1.清潔遊標卡尺將卡尺的尺麵中的汙垢和灰塵清理幹淨,以保證測量的準確性。2.采用標準樣品進行校準現在市場上有很多直徑、寬度和深度相近或相同的標準樣品可供校準,購買(mai) 標準樣品,然後按如下步驟刻度卡尺:(1)將標準樣品放入遊標卡尺尺口。(2)測量標準樣品的尺寸。(3)將遊標...

  • 2023

    5-13

    三豐(feng) 數顯深度千分尺是一種非常常用的測量工具,通常用於(yu) 測量物體(ti) 深度、尺寸等精度要求較高的測量工作。那麽(me) 影響這種工具價(jia) 格的因素有哪些呢?下麵詳細介紹一下。1.品牌數顯深度千分尺的品牌影響價(jia) 格的因素之一,來自數顯深度千分尺一般價(jia) 格較高,而來自小型品牌的數顯深度千分尺則相對便宜。2.材質數顯深度千分尺一般采用不同質地的金屬材質製造,不同材質的質量和成本不同,因此價(jia) 格也會(hui) 有所不同。一般來說不鏽鋼材質和良好的合金材質相對較貴,鋼材等較為(wei) 普通的材料便宜一些。3.精度數顯深度千分尺的精度越高...

  • 2023

    4-13

    蔡司探針是一種高精度的測量工具,通常用於(yu) 精密機械製造、電子元件加工和科學實驗等領域。它的優(you) 點是可以實現非接觸式測量,具有高精度、高穩定性、快速響應和適應性強等特點,因此使用起來非常廣泛。如果你需要購買(mai) 蔡司探針,需要注意以下幾個(ge) 方麵。首先,需要選擇正確的探頭類型。探頭的類型決(jue) 定了蔡司探針的測量範圍和精度。不同的探頭適合不同的工作場所和測量要求。例如,在大尺寸平麵測量中使用滾動探頭可以獲得更高的精度,而在非標準的凹陷麵上測量,則可以使用彈性探頭。其次,需要考慮測量範圍和分辨率。測...

  • 2023

    3-18

    三豐(feng) 數顯電子卡尺是一種測量工具,可以用數字顯示器顯示測量結果,通常比傳(chuan) 統的卡尺更準確和精確。它包含一個(ge) 由兩(liang) 個(ge) 臂組成的部分,可以在一個(ge) 裝置中滑動,使其可用於(yu) 找出兩(liang) 個(ge) 物體(ti) 之間的距離,或用於(yu) 測量一個(ge) 物體(ti) 的內(nei) 部或外圍特征,例如直徑或深度。準備工作:將電子卡尺取出,放在平整的桌麵上。按下開關(guan) 鍵,確保電子卡尺正常工作。根據需要,選擇合適的測量範圍和測量精度。選擇測量對象:將電子卡尺對準需要測量的物體(ti) ,確認是否在正確的位置上。進行測量:將電子卡尺的兩(liang) 個(ge) 測量爪對準需要測量的物體(ti) 兩(liang) 端,緊貼物體(ti) ...

  • 2023

    2-18

    蔡司探針是電子測試中測試PCBA的一種測試針,表麵鍍金,是電子元件。探針材質不同其性能也不同,采用W,ReW材質的探針,容易偏移且彈性一般,易粘金屑易磨損,需要多次清洗,壽命一般。而采用A+材質的探針彈性較好,測試中不容易偏移,並且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長。根據測試探針的種類,可分為(wei) :1.ICT探針:主要用於(yu) 在線電路測試和功能測試,也稱ICT測試和FCT測試,是目應用較多的一種探針。2.界麵探針:非標準的探針,一般是為(wei) 少數做大型測試機台的客戶定做的,用於(yu) 測試機台與(yu) 測試夾...

  • 2023

    1-14

    日本得樂(le) 測厚儀(yi) 可以用來在線測量軋製後的板帶材厚度,並以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控製係統,以實現對板帶厚度的自動厚度控製(AGC)。它的校準過程將根據您使用的測厚儀(yi) 類型而有所不同。可以通過多種方式進行校準,包括單點校準、箔校準和雙箔校準。超聲波測厚儀(yi) 需要經批準的校準塊。1、單點校準單點校準是一種標準校準過程,不需要箔片,該過程通過盡可能靠近測量點施加在非塗層測試件上進行。該校準程序隻有一個(ge) 參考點,該參考點是零值,因此標簽為(wei) “一點”。2、箔校準(兩(liang) 點校準)此...

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