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日本原裝TECLOCK得樂指針測厚薄儀|SM-1201得樂測厚規

簡要描述:測厚儀(yi) (thickness gauge )是用來測量材料及物體(ti) 厚度的儀(yi) 表。在工業(ye) 生產(chan) 中常用來連續或抽樣測量產(chan) 品的厚度。這類儀(yi) 表中有利用穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀(yi) 等。日本原裝TECLOCK得樂(le) 指針測厚薄儀(yi) |SM-1201得樂(le) 測厚規

  • 產品型號:SM-1201
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-01-12
  • 訪  問  量:1802

詳細介紹

日本TECLOCK得樂(le) 指針測厚薄儀(yi) |SM-1201得樂(le) 測厚規

特點:

得樂(le) 測厚規適用範圍:用於(yu) 紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量。 

TECLOCK得樂(le) 測厚儀(yi) 原理:在一定的麵積與(yu) 一定荷重下,測量出的物件厚度.指針式測厚規可以作為(wei) 物品檢測時的基礎測量。

得樂(le) SM-1201測厚規技術參數:

1. 指式方式:指針式 

2. 測量範圍:0-10mm 

3. zui小讀數:0.001mm 

4. 測量深度:120mm 

5. 體(ti) 積大小:(W*D*H)87*23*105mm 

6. 重量:200g

 

性能參數:

型號 

目量 (mm)

測量範圍(mm)

精度(um)

測定力(N

 測定子形狀(mm)

重量 (g)

SM-1201

0.001 

10

3

1.5以下

直徑8.5平(超硬)

440

SM-1201LS

0.001 

10

3

1.5以下

直徑3球狀(超硬)

440

SM-1201LW

0.001 

10

3

1.5以下

直徑3球狀(超硬)

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